技术光激发和激发无损检测的测量示例

高性能红外摄像机拍摄从测量对象外部激发（光、、涡流、电流和热弹性等）测量对 象内部的密度波动、内部剥离、缺陷和龟裂产生的温度变化是一种无损检测方法。 通过组合一定周期激发的锁相热成像，可以实现更高的分辨率，探测从测量对象表面到深入 内部的缺陷；通过改变锁相频率，可以改变向测量对象表面传导的测量对象热传导周期，获 得从测量对象表面到深度方向的相关信息。 本文介绍使用锁相热成像的光激发和激发无损检测的测量示例。 1、红外热成像 本研究需采用最新红外摄像机技术——二维焦平面阵列的红外检测元件。 图1 红外摄像机 320X256像素或者640X512像素、观测波长范围MWIR的红外检测元件（InSb）通过转向电 子冷却器进行冷却，各个红外图像的测量温度分辨率（NETD）在25℃时为0.02℃。每个像 素的空间分辨率通过空间分辨率视角规定，如要检测大型测量目标和精细区域，则需要更高 像素的640X512像素红外摄像机。 红外应力测量需要更高的温度分辨率，如果计算约2000个图像，温度分辨率要不低于 0.001℃。 图2 锁相方式 对于反复加权的测量对象试样的温度变化，根据所谓的锁相方式（图2）任意设置的一定间 隔的帧率，连续采集和计算红外图像，从时刻变化的温度变化量计算最大温度差⊿Ｔ，并制 成图像。 2、光激发热成像 图3 光激发锁相热成像 通过图3所示的结构进行光激发锁相热成像测量。光激发方法分为脉冲热成像和锁相热成像 两种。 图4 脉冲热成像 脉冲热成像方法显示图4所示的温度变化和时间相位滞后，通过光瞬间激发测量对象，在测 量对象温度下降的过程中，将测量对象的正常位置和缺陷位置产生的温度变化和时间相位滞 后通过图像显示出来。脉冲热成像针对捕捉测量对象表面附近的缺陷和热传导系数较高的材 料瞬变现象的测量。 图5 锁相热成像 如图5所示，锁相热成像方法通过重复亮灯激发测量对象，测量对象正常位置和缺陷位置因 光激发产生的温度变化而出现温度变化和时间相位滞后，该方法通过图像将温度变化量和相 位滞后显示出来。锁相热成像方法将按一定频率重复出现的温度变化和相位滞后通过图像表 现出。通过锁相方式反复施加相同的温度变化，减少噪音成分，可以检测出每次温度变化测 量所包含的噪音成分中隐藏的小型缺陷信号。 3、光激发锁相热成像测量示例 图6 复合材料汽车车身的缺陷 图6显示使用光激发锁相热成像进行缺陷检测的结果。光激发锁相热成像检测出复合材料内 部缺陷和剥离位置。 图7 频率和缺陷深度的关系 图7显示缺陷位置不同的复合材料平板的测量示例。改变光激发的锁相频率，0.5Hz的高频 只引起测量对象表面附近出现温度变化，从而只能检测测量对象表面附近的缺陷。而0.06Hz 的低频可以使测量对象深处出现温度变化，从而还可以检测深处缺陷。因此，在光激发锁相 热成像中，通过改变激发频率，可以评估到从测量对象表面到缺陷以及从缺陷位置到测量位 置表面的热传导温度变化和相位滞后，从而可以推测缺陷深度状况。 4、激发热成像 图8 激发热成像 图8为激发热成像概要。通过换能器激发测量对象，使用高性能红外摄像机检 测测量对象内部的龟裂或裂纹通过内部摩擦或滞后而发热的状态。在光激发热成像中，捕捉 从受热的测量对象表面向缺陷的传热以及温度变化从缺陷位置向测量对象表面传导时的温 度变化。而对于激发热成像，因为捕捉从缺陷位置到测量对象表面的温度变化，只需 光激发热成像的一半过程即可，因此激发热成像可以检测更深位置的缺陷。 5、激发热成像的测量示例 图9-铆钉残留的激发热成像 图9为使用激发的热成像检测铆钉残留位置。左图为铆钉熔化后成为一体的检测图 像，其中检测不到激发引起的发热。右图中的铆钉处存在间隙，可以测量到激 发产生的发热。 图10 热成像显示气门座圈 图10 为插入发动机气门座圈时的啮合状态检测示例。激发使座圈中有间隙的内部产 生摩擦而引起发热。本状态使用红外摄像机测量。 6、总结 通过对测量对象进行光激发或者激发，可以检测测量对象内部的缺陷和剥离状态。高 性能红外摄像机可以捕捉非常轻微的温度变化，并且与锁相热成像组合可以改进S/N。通过 图像处理将缺陷位置和正常位置进行二进制处理，还可以用作自动识别的检测装置。